中科行智3D飛點分光干涉儀，推動偏光片薄膜溝槽深度檢測發(fā)展！

　　液晶屏能夠顯示各種信息給人類，是現(xiàn)代電子技術(shù)、人工智能的重要基礎(chǔ)單位，是人機交互的重要通道，具有十分重要的價值。液晶屏中最新的是源矩陣有機發(fā)光二級面板顯示屏(amoled)，因其特性受到了業(yè)界的廣泛關(guān)注，其中偏光片是它的重要組成部分。偏光片分別由保護膜、三醋酸纖維素膜(TAC)、聚乙烯醇膜(PVA)、離型膜和壓敏膠等結(jié)構(gòu)層組成。在生產(chǎn)過程中，將原材料的膜通過拉伸、擴大等制作工藝，最終使偏光片整體透光效果均勻，從而為amoled的均勻發(fā)光效果提供保障。

　　偏光片是一種常見的偏振光學(xué)元件，應(yīng)用非常廣泛，在薄膜電晶體液體顯示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)型液晶顯示面板中，必有兩層偏振方向正交的偏光片。偏光片成品一般由 6 層微米級厚度的透明聚合物薄膜組成，其外觀缺陷可能出現(xiàn)在任何一層。一旦出現(xiàn)凸凹點、異物、氣泡、劃痕等外觀缺陷會直接降低顯示面板的質(zhì)量等級，甚至導(dǎo)致整個面板報廢，因此偏光片外觀缺陷檢測就變得尤為重要。

　　1、案例需求：薄膜溝槽深度測量

　　2、解決方案：

　　采用3D飛點分光干涉儀系列，采集薄膜劃痕狹縫數(shù)據(jù)，用GIVS 3D進行檢測。

　　3、樣品特點

　　多層透明薄膜、溝槽橫向?qū)挾日?/p>

　　4、測量條件

　　掃描點數(shù)：100×400

　　掃描范圍：0.3×1.2(mm)

　　5、軟件工具

　　平面校正、點云轉(zhuǎn)深度圖、高度測量等。

　　6、檢測方案

　　(1)點云數(shù)據(jù)采集;

　　(2)進行點云數(shù)據(jù)校正，將點云轉(zhuǎn)成深度圖;

　　(3)選擇測量區(qū)域，進行高度測量。

　　3D飛點分光干涉儀 是專業(yè)用于超高精度、鏡面高反光及透明材質(zhì)的納米級測量儀。采用譜域白光干涉原理，實現(xiàn)300nm Z向絕對精度、30nm Z向重復(fù)精度，掃描幀率70kHz，最大直徑80mm，可適用于測量強反射、弱反射及透明物體等多種物體，分光模塊與光學(xué)振鏡模塊分離設(shè)計，加入光學(xué)振鏡掃描可替代昂貴的高精密位移臺。

　　產(chǎn)品可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓、金線、BGA、AR鏡片、精密接插件等亞微米級別的3D測量。

3D飛點分光干涉儀

　　蘇州中科行智智能科技有限公司是由中科蘇州機器視覺技術(shù)研究院孵化的一家高科技企業(yè)。初創(chuàng)人員均來自于國內(nèi)知名科研機構(gòu)的中青年科學(xué)家、基礎(chǔ)技術(shù)研究人員、知名IT企業(yè)高層管理人員和技術(shù)骨干，在前沿技術(shù)研究、技術(shù)產(chǎn)業(yè)化、企業(yè)管理和運營等方面積累了豐富的經(jīng)驗。

　　公司重點在工業(yè)機器視覺、在線實時三維重建、高精度視覺測量和大數(shù)據(jù)智能分析技術(shù)等方向上開展平臺級、應(yīng)用級的軟硬件產(chǎn)品開發(fā)，重點突破行業(yè)技術(shù)難點。著眼于工業(yè)機器視覺、智能制造、大數(shù)據(jù)醫(yī)療、云計算、人工智能產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展趨勢以及長三角產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型升級、平臺建設(shè)、成果轉(zhuǎn)化及產(chǎn)業(yè)化等一系列工作，為中國高端智能制造提供基礎(chǔ)技術(shù)平臺和軟硬件一體化解決方案。